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| 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 |
| 反复测量精度更高，最适合生产线校正维修功能，减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能 |
测量参数 | C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ) |
测量范围 | C:0.00000pF～15.0000mF |
基本确度 | （代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
测量频率 | 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz,3506: 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
输出电阻 | 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω上述测量范围以外) |
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 代表值: 2.0 ms（FAST） |
机能 | BIN分选测量功能,触发同步测量,设定测量条件保存功能,比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能,震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口 |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz,最大40VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 电源线× 1,电源备用保险丝× 1 |
| 类型 | 电容测试仪 | 品牌 | 日本 |
| 型号 | 3505 3506 |
